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二手 日本電子 IT-500掃描電鏡JSM-IT500掃描電子顯微鏡

性能介紹

■ 利用 Zeromag 進(jìn)行快速導(dǎo)航

■ Live Analysis在圖像觀察過程中進(jìn)行實(shí)時分析

■ SMILE VIEW LAB 能綜合管理 SEM 圖像 & EDS 分析數(shù)據(jù)

■ 安全、簡便 的樣品交換導(dǎo)航

日常分析更迅速！更簡便 !

從安裝樣品到生成報告，實(shí)時分析軟件使分析過程無縫連貫，作業(yè)速度更快，操作更加簡便。

■ Zeromag

從樣品架示意圖或者CCD圖像上尋找視野和分析位置。

可以快速地尋找視野 , 簡便地預(yù)約多個視野連續(xù)分析的位置。

■ Live Analysis （ 實(shí)時分析）

觀察過程中的 EDS 分析

在觀察過程中可以隨時實(shí)時顯示分析區(qū)域內(nèi)的特征 X 射線譜圖、自動定性分析結(jié)果和主要構(gòu)成元素。

還可以標(biāo)記“Alert"到感興趣的元素上。

■ 數(shù)據(jù)集中管理軟件 SMILE VIEWTM Lab

通過數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)或獲取的數(shù)據(jù)一覽，顯示數(shù)據(jù)管理畫面后，可以重新查看或再次分析數(shù)據(jù)，還可以一鍵生成報告。

利用用戶日志也可以分別管理數(shù)據(jù)。由于數(shù)據(jù)相互聯(lián)動，進(jìn)行重構(gòu)也很簡單。

二手 日本電子 IT-500掃描電鏡  是一款掃描電鏡，它只需很少的步驟就能獲取高倍率圖像。

● 二次電子圖像

利用高真空二次電子像觀察鐵銹的表面，在高倍率下可以觀察到細(xì)微的表面形貌。

● 背散射電子圖像

下圖是硬質(zhì)合金截面的背散射電子成分像，在低電壓的背散射電子模式下可以觀察每個碳化鎢顆粒的晶體取向（通道襯度）差異。

● 選擇掃描系統(tǒng)可獲取畫質(zhì)更好的低加速電壓圖像

可以選擇快速幀累積的掃描系統(tǒng)來減少樣品的放電現(xiàn)像。因此 ,即使在低加速電壓下觀察容易荷電或易受電子束損傷的樣品，也能容易地獲取高倍率圖像。

低真空模式

在物鏡附近進(jìn)行差動抽氣顯著提高了低真空模式下的圖像質(zhì)量。此外，低真空模式的最大壓力可高達(dá) 650 Pa, 進(jìn)一步擴(kuò)大了應(yīng)用范圍。

超低真空圖像

含有大量水分的軟樣品會因為樣品室內(nèi)的壓力而無法保持原有的結(jié)構(gòu)。從前對這樣的樣品不進(jìn)行特殊處理就無法觀察。當(dāng)?shù)驼婵諌毫Ψ秶鷶U(kuò)展到 650 Pa 時，即使沒有特殊處理也可以在對樣品損傷很小的情況下進(jìn)行觀察。

SEM 觀察界面

在 SEM 觀察界面上可以確認(rèn)到正在觀察的譜圖和主要元素。

各個分析區(qū)域都與對應(yīng)的樣品臺坐標(biāo)關(guān)聯(lián)，并且顯示在樣品架示意圖上或者 CCD 圖像 上。

● EDS

X 射線能譜儀 (EDS) 是安裝在掃描電鏡 (SEM) 的附件，通過檢測電子束照射時樣品產(chǎn)生的特征 X 射線，從而進(jìn)行元素分析。

詳細(xì)分析顯示界面

切換到詳細(xì)分析顯示界面后可以進(jìn)行譜圖解析以及元素面分布分析等。

即使在分析期間，也可以從已經(jīng)獲取的數(shù)據(jù)中生成報告。